锗晶体生长与熔体深度和熔体体积的关系 AITranslate
Abstract AITranslate
直拉法生长锗晶体时,电阻率的均匀性、小角晶界的产生以及晶体生长速度都同熔体动力学状态有很大的关系,而熔体的动力学状态与熔体的深度和体积有着直接的联系,控制了熔体的深度和体积,就能有效地控制晶体电阻率的均匀性、小角晶界的产生及晶体生长速度。
KeyWords AITranslate
1庶民.Ge超微粒子发光[J].电子材料快报,1996(9):3-4.
2刘新厚,王风奇,武卫,张建成.原子晶体分析势能函数新理论模型及对硅与锗晶体的应用[J].化学物理学报(英文),1996,9(4):321-324.
3俞雄飞,张伟.FTIR-ATR法快速鉴定T-PVC[J].光谱实验室,2005,22(1):155-157.
4360mm直径的锗晶体生长成功[J].激光与光电子学进展,2006,43(3):74-74. 被引量:1
5黄涛宏,吴天明.FTIR显微镜/ATR物镜法检测圆珠笔迹的研究[J].光谱学与光谱分析,2007,27(11):2200-2202. 被引量:14
6许红,唐胜德,张亚军,刘颖,吴大鸣,孙成君.超声波声速与聚合物熔体密度的单值性[J].中国塑料,2014,28(9):66-70.
7张志坚.红外锗单晶大晶埚径比水平放肩生长[J].云南大学学报:自然科学版,2002,24(S1):78-82. 被引量:4
Basic Information:
DOI:
Chinese Library Classification Number:O781[理学—晶体学]
Citation Information:
直拉法生长锗晶体时,电阻率的均匀性、小角晶界的产生以及晶体生长速度都同熔体动力学状态有很大的关系,而熔体的动力学状态与熔体的深度和体积有着直接的联系,控制了熔体的深度和体积,就能有效地控制晶体电阻率的均匀性、小角晶界的产生及晶体生长速度。
quote
| GB/T 7714-2015 | [1] XIE Rui-qing. Rare Metals and Cemented Carbides, 1991(4): 5-8. |
| MLA | [1] XIE Rui-qing. Rare Metals and Cemented Carbides, no. 4, 1991, pp. 5-8. |
| APA | [1] XIE Rui-qing. (1991). Rare Metals and Cemented Carbides(4), 5-8. |
| IEEE | [1] XIE Rui-qing, Rare Metals and Cemented Carbides, no. 4, pp. 5-8, 1991. |
